使用直读光谱仪分析高含量硅时,其元素含量已超出了校准曲线的线性范围,导致分析值偏低。为此,需要对原有si校准曲线进行扩展。
分析误差一般由测量精度、化学分析值与标准样品认证值的偏差来表征。因此,应对精度和偏差进行控制并维持在一定范围内。